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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)

  • 產(chǎn)品型號：DZ-5002
  • 產(chǎn)品廠商：其它品牌
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
本機(jī)器可模擬Notebook、手機(jī)、PDA各種動作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用后，各種零件的耐久狀況。由計(jì)算機(jī)設(shè)定測試動作，可隨時(shí)更改或儲存，并可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個測試動作，一臺計(jì)算機(jī)同時(shí)控制數(shù)臺機(jī)器。
詳情介紹：
產(chǎn)品說明:
本機(jī)器可模擬Notebook、手機(jī)、PDA各種動作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用后，各種零件的耐久狀況。由計(jì)算機(jī)設(shè)定測試動作，可隨時(shí)更改或儲存，并可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個測試動作，一臺計(jì)算機(jī)同時(shí)控制數(shù)臺機(jī)器。
 
Notebook測試規(guī)格:
磁盤片插入、退出試驗(yàn)。
光驅(qū)插入、退出試驗(yàn)。
PCMCIA插入、退出試驗(yàn)。
電池插入、退出試驗(yàn)。
各種接頭插入、退出試驗(yàn)(PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等)。
桌面放落試驗(yàn) 。
 
手機(jī)測試規(guī)格:
天線彎曲試驗(yàn)。
天線上、下抽取試驗(yàn)。
電池插入、拔出試驗(yàn)。連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。
ON、OFF開關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。
上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。短距離落下壽命試驗(yàn)。
SIM卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。
 
PDA測試規(guī)格:
CF卡插拔耐久試驗(yàn)。
Battery蓋插、拔耐久試驗(yàn)。
DC插頭耐久試驗(yàn)。
連接器插、拔耐久試驗(yàn)。
筆插拔耐久試驗(yàn)。
觸控屏幕摩擦耐久試驗(yàn)。
ON、OFF開關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)。
在線詢價(jià)